日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年良好于其他厂商，研究开发出日本**台荧光X射线镀层厚度测量仪－SFT155。经过二十多年的努力，现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪，深受用户的依赖与**。从此，“SFT”几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。
随着市场竞争的愈加激烈及产品更新换代的加快，客户需求也日新月异。为了迎接新世纪的挑战，本公司在SFT9000系列的基础上又推出更高性能的SEA5000系列仪器，更加充实了荧光X射线镀层厚度测量仪的应用领域
