产品规格：
产品数量：
包装说明：
关 键 词：金属镀层厚度测量仪
行 业：仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间：2022-11-22
镀层测厚仪关键有以下主要优点：
1、测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择。
2、精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。
3、镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示。
4、 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
x射线测厚仪是一种，以和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度，已达到要求的轧制厚度。我们主要来介绍一下x射线测厚仪的系统构成方法，希望可以帮助用户更好的应用产品。
用户操作终端
用户操作终端包括一个的计算机和高分辨率的彩色。可显示整个系统的检测、设定、偏差值;用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能，打印出来以显示可用信息。
X-Y-Z样品平台移动装置
X荧光测厚仪的X-Y-Z样品平台移动装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。
样品种类：各种形状的镀层样品，及电镀液体样品。
平台移动：X-Y-Z移动采用电动方式，实用方便。
仪器特点：
Ø 同时分析元素周期表中由钛（Ti）以上元素的镀层厚度；
Ø 可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度；
Ø 无需复杂的样品预处理过程；分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M ；
Ø 采用的探测器技术及的信号处理线路，处理速度快，精度高，稳定可靠；
Ø 采用正高压激发的微聚焦的X光管，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示；
Ø 采用彩色摄像头，准确观察样品并可拍照保存样品图像；
Ø 采用电动控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便；
Ø 采用双激光对焦系统，准确定位测量位置；
Ø 度高，稳定性好，故障率低；
Ø 采用多层屏蔽保护，辐射性可靠；
Ø WINDOWS XP 中文应用软件，特的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便, 分析结果存入标准ACCESS数据库；
镀层测厚仪，是用于测量磁性基体上的非磁性涂层的厚度以及非磁性基体上的非导电涂层的厚度。
产品镀层的厚度是企业需要控制的。市面上，常见的镀层测厚仪量程范围一般在0-2000μm。测量大厚度的镀层是测不出来的。
精度高，是镀层测厚仪的另一个大特点。精度高的根本是因为探头采用了非常的数字探头，测试的数据不容易受到干扰，并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。
不管是过去、现在还是将来，我们都将坚持以优良的产品，满意的服务的为理念，追求，不断研制创新产品来服务于我们的客户，不断为社会创造更高的价值。
