厂家天瑞仪器 能量色散x荧光光谱仪 x射线荧光光谱仪
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关 键 词:x射线荧光光谱仪
行 业:仪器仪表 分析仪器 成份分析仪
发布时间:2022-10-29
天瑞仪器公司是全球生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX融汇合金分析技术,配备智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
(一)、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例,V、Ti较多时称钒钛磁铁矿,含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料,钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:315×95mm
重量:105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
关于X射线的发展历史,早可以追溯到1895年,德国物理学家威廉·康拉德·伦琴于这一年11月发现并识别出了X射线,因此,X射线荧光光谱仪在许多国家也被称之为伦琴射线。随后在1909年,英国物理学家查尔斯·格洛弗·巴克拉发现了从样本中出来的X射线与样品原子量之间的联系;四年之后,也即在1913年,同样来自英国的物理学家亨利·莫斯莱发现了一系列元素的标识谱线(特征谱线)与该元素的原子序数存在一定的关系。这些发现都为人们后期根据原子序数而不是根据原子量大小提炼元素周期表奠定了基础,同样也为人们建立起个X射线荧光光谱仪(XRF)打下了坚实的理论基础。然而,直到1948年,Herbert Friedman 和Laverne Stanfield Birks才建立起世界上台X射线荧光光谱仪,这为后续光谱仪的商业化使用开辟了道路。
通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫做X射线荧光(X-Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线称为原级X射线,所以X射线荧光仍然属于X射线范畴。一台典型的X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管主要负责产生入射X射线(一次X射线),随后该射线对被测样品进行激发,受激发的样品中的每一种元素在被激发后会放射出二次X射线,但样品中元素种类的不同以及它们吸收外部X射线能量的多少都会影响到它们发射出的二次X射线的能量大小(类似于可见光的颜色),不同类型的元素都会发出不同的能量或者颜色,因此不同的元素所放射出的二次X射线都具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量信息,随后仪器软件将该探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量等信息。值得一提的是,X射线荧光分析技术是一种非侵入式、能够对不同材料中的化学组成实现快速分析的无损检测技术。这些特性使得该分析技术在许多方面都加实用且具优势。其主要应用范围包括:金属合金材料的可靠性鉴别(PMI)、危险品检测、材料验证以及司法科学等方面。