供应XT-150D晶体测试仪

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行 业：IT 机房布线 测试仪 

发布时间：2015-05-18

XT-150D晶体测试仪
联系人: 蒋先生(小灵通:0512-50733769)
主要测试项目： 
1． 晶体的串联谐振频率FS。
2． 晶体的负载谐振频率FL。 
3． 晶体的串联谐振电阻RR。 
4． 晶体的负载谐振电阻RL。 
5． 晶体的静电容C0。 
6． 晶体的负载电容CL。 
7． 晶体的频差ppm或KHz。
一、 技术指标： 
1． 晶体频率测量范围：3―――６０ＭＨｚ。 
2． 等效电阻测量范围：０―――２００Ω。 
3． 静电容测量范围：　０―――２０ＰＦ。 
4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。 
5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。 
6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。 
7． 负载电容和静电容的测量误差：≤＋／－０。１ＰＦ。 
8． 激励电平误差：≤５０％。 
9． 工作温度范围：＋１５―――＋３５℃。 
10． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7
11． 电源电压：２２０Ｖac　＋／－１０％。 
12． 功耗： ≤１５W。