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关 键 词:苏州锑矿石分析仪
行 业:仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间:2022-08-01
x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ,XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术,能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)。
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——(SDD)分辨率低至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
X荧光光谱仪优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
技术指标高灵敏度探测器(分辨率达149Ev),精密的放大电路,
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸:300×300×100mm
大样品腔尺寸:样品尺寸不受限制
X射线管:靶材/Mo管电压/5~50kV管电流/1~1000μA
照射直径:2、5、8mm
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析:理论Alpha
产品保修及售后服务
对客户方操作人员免费进行培训。
国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。(国外客户可协商解决)
正常使用,经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器主机自验收合格之日起保修壹年。
产品维修(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等)。
免费提供软件升级。
提供有效的技术服务,在接到用户故障信息后,2小时内响应,如有需要,48小时内派人上门维修和排除故障。