苏州x射线电镀层厚度测厚仪
价格:110000.00起
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行 业:仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间:2022-06-21
x射线荧光镀层测厚仪产品资料介绍,x射线荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据有所区别,加上传感器具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,系统的使用寿命。
X荧光镀层测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业 天瑞仪器有限公司生产的光伏材料金属镀层测厚仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用。
X射线测厚仪工作原理、结构特性:
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度.
X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
镀层测厚仪主要特点:
1、测量数据数字化存储、图形显示,准确、直观,测量精度高。
2、超过三十八种以上的可测量镀层,以及所有导电性镀层。丝状线材和其它异形底材镀层;
3、实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层或其它中间层;
4、自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度,评价其耐腐蚀性能;
5、测量多层镍无需三电系统,不用x-y记录仪,仪器更可靠,使用更方便;
6、能分辨不同成份的镀层、评价镀层的均匀性,进而判定镀液的状况、添加剂的性能;
7、监视测量是否准确、详细分析测量数据,选择打印测量曲线和标准格式报告;
8、测量数据便于长期保存、随时调用,可以利用其它软件进行数据处理;
9、操作简便、迅速,无需记忆测量种类代码等。仪器可自行检定;
10、软件免费升级,测量镀层种类不断增加。根据用户要求定制软件,或增加特别硬件。