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X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计：
· 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的最强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间 。
· 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
· 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
· 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
· 全新的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
· 3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
· 测厚仪内置PC用户界面
应用范围：
X-Strata960X射线荧光镀层测厚仪可应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析。
用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业
产品特点：
· 快速、非破坏性EDXRF分析技术
· Ti22-U92多元素自动鉴别
· 高可靠、长寿命100瓦微焦点X射线管保证高分析精度和更短的分析时间
· 便捷的仪器校正，多种硬件选项满足不同形状样品和不同尺寸样品的要求
· 一体化工作站设计实现最佳的人机工程学，直观视窗软件实现便捷的操作
· 强大的数据统计、处理功能
· 测量范围宽
· NIST认证的标准片
· 全球服务及支持
技术参数:
元素范围: Ti22—U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；最多同时15种元素定量 。
X射线激发: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）。
X射线检测: 高分辨封气 (Xe)正比计数器，灵敏度高，可最多装备3种二次滤光片。
准直器: 单准直器或多准直器系统，准直器系统最多可安装4种规格的准直器，备有各种规格准直器（0.015mm-0.5mm）圆形或矩形供客户选用。
数字脉冲处理器: 4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能。
样品台: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm。
手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴
固定位置样品台，最大高度230 mm
CCD系统: 1/2" CMOS-640X480 VGA resolution
镜头标准为15倍，可选购40倍或由软件放大X1、X2、X3、X4 激光自动对焦。
自由距离测量DIM: 在12.7~88.9mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点，并有自动雷射聚焦功能。
统计报表功能: 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、量测点数、控制上线图、控制下线图、CP、CPK数据分组、X-bar/R图、直方图数据储存功能统计报告软件允许用户自行设计报表 (另可选购Excel 输出功能)。
电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
仪器尺寸: H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
