芯片IC失效分析 温湿度试验 人体模式静电放电测试
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关 键 词：芯片IC失效分析
行 业：商务服务 认证服务
发布时间：2022-03-18
AECQ认证是什么
克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子会(AEC)，AEC 是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”的简称，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC建立了质量控制的标准。同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下基础。
芯片可靠性验证 ( RA)：
芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；
高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ；
温度循环试验(TC), JESD22-A104 ；
温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ；
高加速应力试验(HTST / HAST), JESD22-A110；
高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108；
AEC-Q200 被动组件应力测试（Stress Test））的认证规范（无源器件）
AEC-Q200-001 阻燃性能测试
AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试
AEC-Q200-003 断裂强度测试
AEC-Q200-004 自恢复保险丝测量程序
AEC-Q200-005 PCB板弯曲/端子邦线应力测试
AEC-Q200-006 端子应力（贴片元件）/切应力测试
AEC-Q200-007 电压浪涌测试
AEC-Q101 离散组件应力测试（Stress Test）的认证规范
AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试
AEC-Q101-003 邦线切应力测试
AEC-Q101-004 同步性测试方法
AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
芯片静电测试 ( ESD)：
人体放电模式测试(HBM), JS001 ；
元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ；
闩锁测试(LU), JESD78 ；
芯片IC失效分析 ( FA)：
光学检查(VI/OM) ；
扫描电镜检查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH ；
Micro-probe;
聚焦离子束微观分析(FIB)
弹坑试验(cratering)
芯片开封(decap)
芯片去层(delayer)
晶格缺陷试验(化学法)
PN结染色 / 码染色试验
推拉力测试(WBP/WBS)
红墨水试验
PCBA切片分析(X-section)
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