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发布时间：2022-02-14
薄膜电容损坏的原因
与击穿元件串联连接的元件上的电压将相应地上升，使得剩余组上的电压将相应地上升，并且通过每个元件的电流也将相应地增加。这一系列反应会导致各成分迅速老化，热值增加。同时，在较高电压的作用下，极板边缘也会发生局部放电。经过一定时间后，与故障元件串联的整组薄膜电容会相继击穿，连接新的一组。组数进一步减少，元件电压进一步升高，过流现象更加严重，介质进一步劣化，温度进一步升高，电弧会进一步增大。这样下去，部件损坏会越来越严重，箱壳膨胀会越来越严重。
防止涌流
在器投入时，一般情况下伴随着很大的涌流，在iec出版物831篇中电容器投入涌流的计算公式is＝in×√2s/q 本公式中：
is---为电容器投入时的涌流（a）
in---为电容器额定电流（a）
s---为安装电容器处的短路功率（mva）
q---为电容器容量（mvar）
在低压电容器回路中，可采用以下方法限制：
（1）是串联电抗器；
（2）是加大投切电容器的容量；
（3）是采用电容器投切的。
薄膜电容优势薄膜电容的主要优势
接地电阻高，耐温性好。具备子愈性和无感觉特点。具备良好的高频率介电强度能，容量与耗损角在挺大频率范畴内与频率不相干，随温度转变不大，而体积电阻率随温度上升而有所增加，它是别的物质原材料无法具有的。耐高温高，吸收率小。
薄膜电容器的包装方式有什么？
预浸型包管、盒式封装、径向、无包管、铝壳封装、表层安装、塑壳封装
