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关 键 词：AECQ认证
行 业：商务服务 认证服务
发布时间：2021-11-20
汽车IC的市场相较于资通讯科技(ICT)产业的*大差异为市场较为封闭，且前期的开发及验证期可能长达3年，对台湾、中国大陆IC业者已习惯即时上市(Time to Market)的运作模式相悖，价值理念也不尽相同，本文将说明AEC-Q100的IC验证规范并解析晶片商如何满足车厂/模组厂客户的需求，探讨焦点将放在2014年9月新改版规范AEC-Q100 H版的要求进行解读。
应力测试失效后的定义：
测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。
电子元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
我实验室元器件失效分析设备能力：
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、**图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。
汽车电子设备EMC测试
RE辐射扰；CE传导扰；BCI大电流注入；
RI电波暗室法辐射抗扰度?RI瞬态传导扰；
瞬态传导抗扰度；静电放电抗扰度ESD；
脉冲波测试；高电压注入抗扰度测试；
脉冲抗扰度测试；音频磁场辐射抗扰度测试；
手持式收发机抗扰度测试；脉冲波抗扰度测试；
高周波抗扰度测试；低周波测试；磁场扰测试；
宽带辐射抗扰度测试；辐射天线靠近抗扰度；
移动手机天线靠近测试；汽车电子暗室有效性；
屏蔽室屏蔽效能；暗室电压驻波比；E/e-mark认证；
汽车元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
我实验室元器件失效分析设备能力：
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、**图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。
形貌观察：体视显微镜、金相显微镜、X-RAY透射系统、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
制样设备：机械开封机、化学开封机、反应离子刻蚀机、研磨抛光机。
应力试验设备：高低温试验箱-热循环试验、热冲击试验箱-热冲击试验、振动台-机械振动试验、恒定加速度试验台-恒定加速度试验、可编程电源-电压、功率老炼试验、电子负载-电流、功率老炼、频率发生器-老炼试验、浪涌发生器-浪涌试验、高温真空箱。
广电计量从1964年开始从事计量检定?作，是原电力602计量站，历经五?余年的技术沉淀，持续变?**，实现跨越式发展，成为一家全国性、综合化、军?融合的国有*三?计量检测机构，*提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“四证”等和工业众多机构的认可资质。
