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关 键 词：X-RAY半导体检测,X-RAY检测IC铜柱,X-RAY检测硅穿孔,半导体晶圆X-RAY检测,芯片缺陷X-RAY检测
发布时间：2021-10-20
可缩短发现故障和缺陷时间，及时找出故障和缺陷的成因。因此它是目前采用得比较多的一种检测手段。但AOI系统也存在不足，如不能检测电路错误，同时对不可见焊点的检测也无能为力。
根据对各种检测技术和设备的了解，x-ray检测技术与上述几种检测技术相比具有更多的优点。它可使我们的检测系统得到较高的提升。为我们提高“一次通过率”和争取E无缺陷E的目标，提供一种有效检测手段。
而保险丝是一种灵敏度更高的元器件，受到一定程度的刺激就会立刻熔断，断开电路，起到保护设备的作用。
保险丝的重要性不可言喻，自然保险丝的质量等级不可忽视，目前国内主要生产商也在积极的提升产品质量，X-RAY检测IC铜柱，
既然保险丝的重要性不可忽视，那保险丝的质量等级管控自然更值得关注，目前保险丝生产厂商对保险丝等元器件的质量管控也越来越重视，通过引入x-ray检测设备来取代传统的检测方式。
1、检测结果有底片：
由于底片上记录的信息十分丰富，且可以长期保存，从而使射线照相法成为各种无损检测方法记录真实、直观、整体性的检测方法。
2、缺陷定性定量准确：
可以获得缺陷的投影图像，缺陷定性定量准确，各种无损检测方法中，X-RAY，射线照相相对缺陷定性定量是标准的。在定量方面，半导体晶圆X-RAY检测，对体积型缺陷（气孔、夹渣类）的长度、宽尺寸的确定也很准，其误差大致在零点几毫米。但对面积型缺陷（如裂纹、未熔合类），X-RAY检测硅穿孔，如缺陷端部尺寸（高度和张口宽度）很小，则底片上影像延伸可能辨别不清，此时定量数据会偏小。
