价格：面议
0
联系人：
电话：
地址：
产品规格：
产品数量：
包装说明：
关 键 词：IC半导体X,LED芯片检测X,Ray,电感缺陷检测X,晶圆检测X,依科司朗X-RAY
发布时间：2021-10-16
自动光学检测(AOI)是近几年兴起一种检测方法。它是通过CCD照相的方式获得器件或PCB的图像，然后经过计算机的处理和分析比较来判断缺陷和故障。其优点是检测速度快，编程时间较短，可以放到生产线中的不同位置，便于及时发现故障和缺陷，使生产、检测合二为一。不足是：不能检测电路属性，X Ray，例如电路错误，LED芯片检测X Ray，对不可见焊点检测不到。
x-ray检测技术的特点：
（1）对工艺缺陷的覆盖率高达97%。可检查的缺陷包括：虚焊、桥连、立碑、焊料不足、气孔、器件漏装等等。尤其是x-ray对BGA、GSP等焊点隐藏器件也可检查。
（2）较高的测试覆盖度。可以对肉眼和在线测试检查不到的地方进行检查。比如PCBA被判断故障，IC半导体X Ray，怀疑是PCB内层走线断裂，x-ray可以很快地进行检查。
（3）对双面板和多层板只需一次检查。
提供相关测量信息，用来对生产工艺过程进行评估。如焊膏厚度、焊点下的焊锡量等。
通过客户提供的测试样品，对样品特定位置上使用X-RAY射线进行检测试验。通过X-RAY射线分析评估气泡的大小和位置，电感缺陷检测X Ray，线路板等内部位移的分析；判别空焊，虚焊等焊接缺陷。
X射线是一种波长很短的电磁波，波长范围为0.0006一80nm，具有很强的穿透力，能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质。
测试步骤：确认样品类型/材料的测试位置和要求→将样品放入X-Ray的检测台→图片判断分析→标注缺陷类型和位置。但是由于材料性质，设备会受到一定的限制，如IC封装中是铝线或材料材质密度较低会被穿透而无法检查。
