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体积型缺陷检出率很高:体积型缺陷检出率很高,而面积型缺陷的检出率受到多种因素影响。体积型缺陷是指气孔、夹渣类缺陷。面积型缺陷是指裂纹、未熔合类缺陷,其检出率的影响因素包括缺陷形态尺寸、透照厚度、透照角度、透照几何条件、源和胶片种类、像质计灵敏度等。
对缺陷厚度方向的位置、尺寸的确定比较困难:除了一些根部缺陷可结合焊接知识和规律来确定其在工作中厚度方向的位置,很多缺陷无法用底片提供的信息定位。缺陷高度可通过黑度对比的方法作出判断,但准确度不高,尤其是对影像细小的裂纹类缺陷,其黑度测不准,测定缺陷高度的误差较大。
较高的测试覆盖度,可以对肉眼和在线检测不到的地方进行检测。比如PCBA被判断故障时,怀疑是PCB内层走线断裂,X射线可以很快地进行检查;
检测的准备时间大大缩短;
能观察到其他测试手段无法可靠探测到的缺陷,比如虚焊、空气孔和成像不良等;
对双面板和多层板只需一次检测(带分层功能);
提供相关测量信息,如焊膏厚度、焊点下的焊锡量等,这些信息可用来对生产工艺 过程进行评估。