光谱仪采用了一个复杂而又敏感的光学系统。光谱仪的环境温度，湿度，机械振动，以及大气压的变化，都会使谱线产生微小的变化而造成谱线的偏移。气压和湿度变化会改变介质的折射率，从而使谱线发生偏移，湿度的提高不仅会使空气的折射率，而且会对光学零件产生腐蚀作用，降底了仪器透光率，湿度一般应控制在55% -60% 以下。温度对光栅的影响主要改变光栅常数，使角色散率发生变化，产生谱线漂移。这些变化会使光谱线不能完全对准相应的出射狭缝，从而影响分析结果。
直读光谱仪的分辨率受到入缝宽度、出缝宽度、光栅刻线数、光谱仪的焦距、光线入射角、光谱级次等因素的综合影响,其中全谱和多道直读光谱仪的主要区别在于出入缝宽度、光栅刻线数和焦距的不同.全谱型直读光谱仪虽然焦距比较小,但其采用了更窄的入缝和更高刻线数的光栅,因此其光学分辨率与大型多道光谱仪相当;而且大型多道直读光谱仪采用PMT作为检测器,必须配合出缝来选择光谱,受制于光谱强度、出缝的加工和光学调试难度等因素的影响,出缝宽度通常在50μm左右,影响了多道光谱仪的分辨能力.而全谱型直读光谱仪采用CCD作为检测器,其像素宽度仅为10μm左右,大大提高了光谱的分辨能力.
在实际工作中，由于试样和标准样品的冶金过程和某些物理状态的差异，常常使工作曲线发生变化，通常标准样品多为锻造和轧制状态，而日常分析为浇铸状态。为了避免试样因冶金状态变化给分析结果带影响，常常应使用一个与分析试样冶金状态和物理状态都一样的控样，来控制分析结果，控样的元素含量应位于工作曲线含量范围内，并与分析试样的含量越接近越好。同时，控制样品的元素含量应当准确可靠，成份分布均匀，外观无气孔、砂眼、裂纹等物理缺陷。
Labspark 750T 精密直读火花光谱仪技术参数
Labspark 750T 技术优势
激发能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料。
独特的恒温式火花台设计，环状氩气流方式，保证连续激发状态下仪器的稳定性，避免使用水冷带来的不利影响。
安全防护设备阻止不安全激发。
铜基座火花台，火花台易于拆卸，便于清洁。
带有独特配件，易于检测多种形状的分析对象（饼状、棒状、线状）。
一体式透镜隔离阀，可防止因日常维护导致的光室污染影响强度下降，透镜易于更换。
放电室设计独特，保证放电在条件下进行。
激发电极为钨电极。
帕邢 - 龙格架发，高发光全息光栅。
光栅焦距 750mm，刻线为 2400 条 /mm，
谱线范围：120-800nm。
色散率：一级色散率：0.55nm/mm， 二级色散率：0.275nm/mm。
分辨率：优于 0.01nm。
整体出射狭缝调试方便、快捷、便于用户增加更改通道，节约成本。
光栅、光电倍增管等核心部件全部进口。
真空度由真空泵和真空控制设备控制。
铸铁光室，热膨胀系数低，保证真空度的要求。
采用纳克公司独创的金属原位分析仪的核心关键技术 -- 单次放电采集解析技术（Single Discharge Analysis，SDA）。
世界首创的多通道同步描迹提高仪器稳定性。
延时积分技术，国内空白、，不同的通道采用不同的积分起始时间。
内部恒温系统，不同的部位采用不同的恒温条件，大大减少了外部环境变化对仪器的影响（控制精度 ±0.1℃）
连续可调光源，对不同的材质可以匹配不同的光源实现的分析结果。
模块化的电路设计，维修方便快捷，为远程诊断做好了准备。
软件可调独立高精度负高压模块，负高压精度＜ 0.05%。
负高压可由分析程序控制，调高分析程序的分析精度，扩展元素的分析范围。
实时各通道负高压、 光室温度、火花台温度、真空度等重要参数，确保仪器长时间稳定运行。
各光电倍增管负高压独立 供电，消除相互干扰，运行更可靠。
根据分析需要，可程序调整，拓宽反分析范围。
包括不同基体不同曲线的计算，全中文分析软件，方便用户操作，第三元素干扰校正，提高分析准确度。
