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红外碳硫分析仪测定氧化中的碳硫氧化是彩色显像管制造用的重要化工材料之一。该材料中碳、硫的存在对其性能及用途有较大的影响,也是重点控制和测定的元素之一。过去采用的是管状炉燃烧气体容量法和滴定法进行材料中碳、硫含量的分析测定,这些方法分析速度慢,精度不高,而且不能准确测定氧化的碳、硫含量,特别是各生产厂家对氧化质量要求的提高,因此,对氧化中碳、硫含量的准确测定,显得十分重要。本文介绍使用红外碳、硫分析仪测定氧化中碳、硫含量,克服了上述方法的不足,终解决了氧化中碳、硫含量的测定问题。该方法适用于各种牌号氧化中碳、硫含量的分析测定。以单质形态存在的碳称为游离碳。游离碳的多少对碳化硅材料的抗折强度有一定的影响,使用纳克高频管式炉红外仪CS-3000G可对碳化硅中的总碳和游离碳进行测定。纳克CS-3000G仪器结构:高频发生部分•采用高频电容器件、无感电阻,确保高频长期工作的可靠性。•采用专门为高频红外碳硫仪定制的电子管,确保高频能量的稳定。•独特的高频模块化设计,有效防止炉子对检测电路系统和操作人员的高频辐射,经过设备检测,仪器完全达到安全操作标准。管式电阻炉部分•采用可靠耐用的加热元件和燃烧管,能满足所用样品燃烧温度需求。•采用碳化硅加热元件,通过控制加热功率延长元件的寿命,自动控制炉体外壳温度,需要约 20 分钟即可达到操作温度。•加热电流钳位的电路设计确保加热功率安全可控。纳克CS-3000G仪器参数:1.分析范围高频感应炉(500mg样品): 低碳:1ppm~0.1% 高碳: 0.1%~5% 低硫:1ppm~0.3% 高硫(150mg样品):0.3%~30%管式电阻炉(500mg样品): 碳:0.01%~20% 硫:0.005%~20%*注:*测量池数量及尺寸可根据用户样品含量要求选择。 *改变称样量可以扩展分析范围至100%。2.分析精度高频感应炉:低碳:1ppm或RSD≤1% 高碳:RSD≤0.5% 低硫:1.5ppm或RSD≤1.5% 高硫: RSD≤1.5%管式电阻炉:低碳:RSD≤1% 高碳: RSD≤0.5% 低硫:RSD≤1.5% 高硫: RSD≤1.5%注:以不大于标样标准偏差为准。3.灵敏度: 0.01ppm4.分析时间高频感应炉:40秒~60秒管式电阻炉:150秒~300秒5.样品称重高频感应炉:0.1g~0.5g;管式电阻炉:300mg/煤(典型值)注:计算机与电子天平连接,实现准确地称量,样品质量自动传送到分析软件。如果需要,样品质量也可以人工输入。