肇庆表面微观形貌报价 优质服务
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发布时间：2020-01-29
X射线分析.
x射线是--种波长很短的电磁波，这是1912年由劳埃M.vonLaue指导下的的衍射实验所证实的。x射线衍射是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。这种方法是建立在- -定 晶体结构模型基础上的间接方法，即根据与晶体样品产生衍射后的X射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数，并且可以达到很高的精度。然而由于它不是显微镜那样可以直接观察，因此也无法把形貌观察与晶体结构分析微观同位地结合起来。由于x射线聚焦的困难,所能分析样品的小区域(光班)在毫米数量级，因此对微米及纳米级的微观区域进行单独选择性分析也是无能为力的。
扫描隧道显微镜(STM)是-种新型的表而测试分析仪器。与SEM、TEM相比，STM具有结构简单、分辨本领高等特点,可在真空大气或液体环境下以及在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态，并可直接甲于观察样品表而发生的物理或化学反应的动态过程及反应中原子的迁移过程等。5.4 射电子显微镜(TEM)
原子力显微技术(AFM)
原子力显微镜(lAtomic force microscopy)的主要特征是不要求电导的表而，因为它测量的是扫描探针和它的样品表而间的相互作用力，包括静电的、范德华的、摩擦的、表面张力的(毛细的)和磁力的，因此它克服了STM方法的不足并成为它的互补。由于仪器可以调节到所测量对象特定力有敏感作用的，故其可测量样品范围扩展到有机、无机、生物材料及技术样品。不同于STM，从AFM探针所获得是每一一个 表面点力的图。这力的图可解释为表而结构的反映，是磁的、静电的诸种力的几何拓朴图。AFM测定样品表面形貌的模式有三种:接触式、非接触式和轻敲式(tapping mode)。
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