SAI6305-B南瑞箱变测控装置制作 欢迎来电垂询
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数据采集系统
本装置的数据采集系统由两部分组成。
保护系统采用的数据采集系统由高可靠性的高精度的A/D转换器、多路开关及滤波回路组成，最新技术的A/D转换芯片内部包含了采样保持及同步电路，具有转换速度快、采样偏差小、超小功耗及稳定性好等特点，故本装置的采样回路无可调整元件，也不需要在现场作调整，具备高度的可靠性。
图3－2 A/D 系统原理示意图
测量系统则采用了最新采样技术的测量芯片，测量精度达24位，且无需采用任何软件技术就解决了因频率误差而导致测量误差增大的问题。测量系统具备测量精度单次调整后自动记忆的功能，在现场无需再作调整。
3) 通信部分
本插件内含通信速度极高、具备通用性接口的以太网络芯片，以太网为本装置接入系统的主要通信接口。通常方式，装置提供RJ45通信接口，以UTP5线为通信介质。特殊情况下，可增加光纤接口通讯模件,提供光纤接口。该模件为选配模件，须特别提出。
本装置还配置了一个SPI接口用于与人机对话插件（MMI）通信，一个SCI（标准RS232 串行接口）用于连接PC机，可以借助PC机的强大功能及配置的专用调试软件包对装置进行各种测试。
2.5 绝缘性能
a. 绝缘电阻：各带电的导电电路分别对地(即外壳或外露的非带电金属零件)之间,交流回路和直流回路之间,交流电流回路和交流电压回路之间,用开路电压为500V 的测试仪器测试其绝缘电阻值不应小于100MΩ。
b. 介质强度：装置通信回路和24V 等弱电输入输出端子对地能承受50Hz、500V(有效值)的交流电压,历时1min 的检验无击穿或闪络现象；其余各带电的导电电路分别对地(即外壳或外露的非带电金属零件)之间,交流回路和直流回路之间,交流电流回路和交流电压回路之间,能承受50Hz、2kV(有效值)的交流电压,历时1min 的检验无击穿或闪络现象。
c. 冲击电压：装置通信回路和24V等弱电输入输出端子对地,能承受1kV(峰值)的标准雷电波冲击检验；其余各带电的导电端子分别对地,交流回路和直流回路之间,交流电流回路和交流电压回路之间,能承受5kV(峰值)的标准雷电波冲击检验。
2.6 机械性能
a. 振动响应：装置能承受GB/T 11287-2000中4.2.1规定的严酷等级为I级振动响应检验。
b. 冲击响应：装置能承受GB/T 14537-1993中4.2.1规定的严酷等级为I级冲击响应检验。
c. 振动耐久：装置能承受GB/T 11287-2000中4.2.2规定的严酷等级为I级振动耐久检验。
d. 冲击耐久：装置能承受GB/T 14537-1993中4.2.2规定的严酷等级为I级冲击耐久检验。
e. 碰撞：装置能承受GB/T 14537-1993中4.3规定的严酷等级为I级碰撞检验。
3.2 主要插件
本保护装置由以下插件构成：交流插件、CPU插件、开入插件，电源插件以及人机对话插件。
3.3 交流插件
交流变换部分包括电流变换器TA 和电压变换器TV，用于将系统TA、TV的二次侧电流、电压信号转换为弱电信号，供CPU插件转换，并起强弱电隔离作用。本插件包括6个电流变换器TA、6个电压变换器TV。6个TA分别变换保护电流IA1、IB1、IC1、IA2、IB2、IC2共6个电流量；6个TV 分别变换测量电压UA1、UB1、UC1、UA2、UB2、UC2共6个电压量。
3.4 CPU 插件
CPU 插件原理简图如下：
CPU 模件原理示意图
CPU 插件主要由以下几部分构成：
1) CPU 系统
CPU 系统由微处理器CPU、RAM、ROM、Flash Memory 等构成。高性能的微处理器CPU（32位），大容量的ROM（512K字节）、RAM（1M字节）及Flash Memory（1M 字节），使得该CPU 模件具有极强的数据处理及记录能力，可以实现各种复杂的故障处理方案和记录大量的故障数据。Flash Memory中可记录的录波报告为8至50个，可记录的事件数不少于1000条。保护定值等运行配置信息也存入该存储器中，这些信息在装置掉电后均不会丢失。C语言编制的保护程序，使程序具有很强的可靠性、可移植性和可维护性。
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