杭州涂镀层厚度测试内容 一对一服务
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发布时间：2020-01-21
材料表面覆盖层的厚度均匀性是涂/镀层产品厚度测试为重要的产品质量指标之一。
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
测试设备：X射线荧光测厚仪
参考标准：GB/T 16921, ISO 3497,ASTM B568
厚度测量方法分破坏性测量和非破坏性测量两大类。属于破坏性测量的方法有计时液流法，点滴测厚法，库仑法，金相法等。
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