常州表面微观形貌报价 优质服务
价格：800.00起
产品规格：
产品数量：
包装说明：
关 键 词：常州表面微观形貌报价
行 业：商务服务 咨询服务 产品检测服务
发布时间：2019-12-27
原子力显微技术(AFM)
原子力显微镜(lAtomic force microscopy)的主要特征是不要求电导的表而，因为它测量的是扫描探针和它的样品表而间的相互作用力，包括静电的、范德华的、摩擦的、表面张力的(毛细的)和磁力的，因此它克服了STM方法的不足并成为它的互补。由于仪器可以调节到所测量对象特定力有敏感作用的，故其可测量样品范围扩展到有机、无机、生物材料及技术样品。不同于STM，从AFM探针所获得是每一一个 表面点力的图。这力的图可解释为表而结构的反映，是磁的、静电的诸种力的几何拓朴图。AFM测定样品表面形貌的模式有三种:接触式、非接触式和轻敲式(tapping mode)。
扫描电于显微镜(SEM)
扫描电子显微镜(scanning electron microscope, SEM)简称扫描电镜，是利用电子束在样品表而扫描激发出来代表样品表面特征的信号成像的。扫描电子显微镜(SEM)是由热阴极电子发射出的电子在电场作用下加速，经过2-3个电磁透镜的作用，在样品表而聚焦成为极细的电子束小直径为1-10nm)。场发射扫描电子显微镜的分辨率可达到1nm,放大倍数可达到15万-20万倍，还可以观察样品表面的成分分布情况。
X射线分析.
x射线是--种波长很短的电磁波，这是1912年由劳埃M.vonLaue指导下的的衍射实验所证实的。x射线衍射是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。这种方法是建立在- -定 晶体结构模型基础上的间接方法，即根据与晶体样品产生衍射后的X射线信号的特征去分析计算出样品的晶体结构与晶格参数，并且可以达到很高的精度。然而由于它不是显微镜那样可以直接观察，因此也无法把形貌观察与晶体结构分析微观同位地结合起来。由于x射线聚焦的困难,所能分析样品的小区域(光班)在毫米数量级，因此对微米及纳米级的微观区域进行单独选择性分析也是无能为力的。
-/gbaffhf/-
