无锡涂镀层厚度测试流程 竭诚服务
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发布时间：2019-12-23
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
测试设备：X射线荧光测厚仪
参考标准：GB/T 16921, ISO 3497,ASTM B568
电镀层的厚度及其均匀性是镀层质量的重要标志，它在很大程度上影响产品的可靠性和使用寿命。
在工业生产中,覆盖层的厚度过薄将难以发挥材料的特殊功能和性能等作用, 过厚则会造成经济上的浪费,而且覆盖层的厚薄不匀或未达到规定要求, 将会对其机械物理性能产生不良影响。
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