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关 键 词:防静电设备,东虹鑫防静电设备,外观检查仪,晶圆外观检查仪,封装检查仪
发布时间:2016-01-23
名称:Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 编号:F-605 尺寸:400*400*10 功能介绍:ASM、KS、DISCO半导体/led封装 用于晶圆外观的检测(配合显微镜使用) 优点:可以360度旋转。操作方便,亮度可调节。定位方便,适用不同晶圆环(wafer) 使用案例:Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 适用范围 : Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 ; 产品名称 : Wafera检查仪、半导体/led封装-晶圆外观检查仪 ; 型号 : F-605 ; 品牌 : 东虹鑫 ; 加工定制 : 否 ;