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广告图添加 1、本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法，测量时不损伤工件表面，能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形，并分析计算出测量结果。 2、适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘的刻线深度；光栅的槽形结构镀层厚度和镀层边界处的结构形貌；磁（光）盘、磁头表面结构测量；硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。 3、由于仪器测量精度高，具有非接触和三维测量的特点，并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果，本仪器适用于各级测试、计量研究单位工矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校和科学研究单位等。 型号 WGL 在连续表面上，相邻二象素之间没有大于1 / 4波长的高度突变时： 1000一1nm 相邻二象素之间含有大于1 / 4波长的高度突变时： 130一1nm 测量的重复性： δRa≤0.5nm 物镜倍率: 40X 数值孔径: Φ65 工作距离: 0.5mm 仪器视场 目视: Φ0.25mm 摄象: 0.13×0.13mm 仪器放大倍数 目视: 500× 摄象（计算机屏幕观察） 2500× 接收器测量列阵: 1000X1000 象素尺寸: 5.2×5.2μm 测量时间采样（扫描）时间: 1S 仪器标准镜 反射率（高）: ～50 % 反射率（低）: ～4 % 照明光源:白炽灯 6V 5W 绿色干涉滤光片波长: λ≒530nm 半宽度 λ≒10nm 型号 : WGL ; 品牌 : 上海物光 ; 加工定制 : 否 ;
