ULN2003驱动IC测试仪

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行 业：仪器仪表 集成电路 数字集成电路测试仪 

发布时间：2015-10-02

该数字IC专用测试仪采用高速MCU设计,特有自动元件放置检测电路,即只要有元件放下即自动进行好坏测试,具有测试准确快速等特点.
JFY1010A数字IC测试仪测试元件范围如下:
1:40系列:4001 4011 4013 4017 4020 4028 4051 4052 4053 4060 4069 4071 4081 4093 4094 40106 7404
2:45系列: 4504 4511 4518 4538 4541 4543 4584
2:74系列:7400 7402 7407 7408 7410 7414 7420 7427 7432 7433 7474 7486 74138 74139 74153 74157 74164 74174 74175 74244 74245 74553:其它:LM324  LM339 NE556 ULN2003 TD62003 239 139 224 124
使用方法:
1:开机,按上翻或下翻键,限好要测试的型号名,然后按下确定键即好.
2:将要测试的IC1脚对准IC座1脚,然后夹紧,只要有嘀嘀声音,即为好的.没声即为坏的.
3:对于339 ULN2003 62003测试时,应将1脚放在IC座的第2脚.

加工定制：否 类型：元件参数测试仪 品牌：金飞仪 型号：JFY1010A 测量范围：40头 74头等数字IC的功能测试 测量频率：----（Hz） 测量精度：优于 5% 适用范围：电子元件厂商来料检测 重量：1（kg） 尺寸：300 X 200 X120（mm）