Dage X-ray

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产品规格：XD7500VR,XD7600nt,XD7800VR

产品数量：100.00台 个

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关 键 词：Dage,X-ray射线探测仪

行 业：仪器仪表 无损检测仪器 粗糙度仪 

发布时间：2016-11-29

Dage X-ray

X光测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。


主要特点

DAGE7500 VR X光无损检测系统
 
主要特征：
-最小分辨率：950纳米(0.95 微米)；
-影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
-图像采集:1.3M万数字CCD；
-最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
-最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
-系统最大放大倍数: 至5650X；
-显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
-安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等

DAGE7600 NT X 光无损检测系统

-最小分辨率: 250纳米(0.25微米)；
-影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；
-最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm )；
-最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；
-系统最大放大倍数: 至 6500 X；
-图像采集: 1.3 M万数字CCD；
-显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；
-安全性: 在机器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。

 
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸样品X光无损检测系统

Dage XD7800VR或NT是专门用于大尺寸样品的X光无损检测的系统。

主要特征：
-最小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 )；
-影像接收器左右偏转角度各70 度（共 140 度），旋转 360 度；
-最大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
-最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
-最大样品重量: 10KG ；
-系统最大放大倍数: 至 5650 X ；
-图像采集: 1.3 M 万数字 CCD ；
-显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD