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镀金膜厚仪 * 适用于Windows?2000或Windows? XP的真Win32位程序带在线帮助功能。 * 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。 * 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。 * 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）。 * 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中。 * 对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)。 镀金膜厚仪随着半导体制造技术向亚微米及深亚微米方向发展，各种精密测试设备也层出不穷。以精密设备为主的测试技术日益成为半导体制造业发展过程中的一大研发主题。在集成电路产业“十一五”专项规划中，也把测试技术作为发展重点之一，定位为适应更高要求的主流技术。膜厚测试仪作为半导体制造工艺过程中最基本、最常用的测试设备，当工艺技术发展到亚微米及深亚微米时，对它的精密度要求越来越高。 镀金膜厚仪经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。 镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量，我公司是博曼（bowman）仪器的大陆代理商，专业销售：复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪，镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪。 膜厚测试仪（电镀膜厚仪）镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量仪/膜厚测量仪/镀层厚度检测仪/测厚仪/膜厚分析仪/镀层分析/无损检测仪/深圳测厚仪/进口测厚仪/金属膜厚测试仪/电镀膜厚测量仪/电镀膜厚检测仪/电镀膜厚测厚仪/金镍测厚仪/铜厚测量仪/博曼测厚仪/无损测厚仪/薄膜厚度测量仪/薄膜测厚仪仪等高科技仪器，由深圳金东霖厂价直销，欢迎各行业的朋友来电咨询、了解或参观相关博曼仪器设备。深圳金东霖以最优的服务，为您提供最佳的解决方案。
