供应x射线膜厚仪

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关 键 词：膜厚仪，膜厚测试仪，电镀膜厚测试仪

行 业：广电 广电测试设备 测试仪 

发布时间：2014-04-10

x射线膜厚仪测量模式用于： 
1.单、双及三层镀层系统。  
2.双元及三元合金镀层的分析和厚度测量。  
3.双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）。  
4.能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。  
5.可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。  
6.通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。  
7.可编程的应用项图标，用于快速产品选择。  
8.完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。  
9.报告生成，数据输出。  
10.语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文。  
11.菜单中的某些选择项可授权使用。

x射线膜厚仪随着半导体制造技术向亚微米及深亚微米方向发展，各种精密测试设备也层出不穷。以精密设备为主的测试技术日益成为半导体制造业发展过程中的一大研发主题。在集成电路产业“十一五”专项规划中，也把测试技术作为发展重点之一，定位为适应更高要求的主流技术。膜厚测试仪作为半导体制造工艺过程中最基本、最常用的测试设备，当工艺技术发展到亚微米及深亚微米时，对它的精密度要求越来越高。
x射线膜厚仪经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
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