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x荧光膜厚仪产品特点： ★ X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的镀层膜厚测量及有害物质测量的精度。 ★ 无需液氮的半导体检测器 在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的,不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。 ★ 能谱匹配软件 可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。 ★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析） 可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。 ★ 绘图软件（选配件） 将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。 ★ 电镀液容器（选配件） ★ 各种标准物质（选配件） x荧光膜厚仪 x荧光膜厚仪随着半导体制造技术向亚微米及深亚微米方向发展，各种精密测试设备也层出不穷。以精密设备为主的测试技术日益成为半导体制造业发展过程中的一大研发主题。在集成电路产业“十一五”专项规划中，也把测试技术作为发展重点之一，定位为适应更高要求的主流技术。膜厚测试仪作为半导体制造工艺过程中最基本、最常用的测试设备，当工艺技术发展到亚微米及深亚微米时，对它的精密度要求越来越高。 x荧光膜厚仪经过20多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。 镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量，我公司是博曼（bowman）仪器的大陆代理商，专业销售：复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪，镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪。 膜厚测试仪（电镀膜厚仪）镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量仪/膜厚测量仪/镀层厚度检测仪/测厚仪/膜厚分析仪/镀层分析/无损检测仪/深圳测厚仪/进口测厚仪/金属膜厚测试仪/电镀膜厚测量仪/电镀膜厚检测仪/电镀膜厚测厚仪/金镍测厚仪/铜厚测量仪/博曼测厚仪/无损测厚仪/薄膜厚度测量仪/薄膜测厚仪仪等高科技仪器，由深圳金东霖厂价直销，欢迎各行业的朋友来电咨询、了解或参观相关博曼仪器设备。深圳金东霖以最优的服务，为您提供最佳的解决方案。
