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EXF9500X荧光光谱仪分析范围：100ppm～99.99个百分点测量时间：自适应元素分析：从Na～U的所有元素测量精度：±10PPM～0.1个百分点X射线源：Mo靶的X射线光管风冷（无辐射）摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高探测器：Si-PIN探测器美国进口分辨率：145Kev±5高压器：0～50Kv软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算；软件除能显示金属百分比纯度外，亦可显示黄金K值；软件可自动重复检测，自动测算多次检测的均值.镀层测量：镀层厚度范围<30um温度：-1
