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EXF8000S型X荧光光谱仪分析范围:1个百分点~99.99个百分点测量时间:自适应测量精度:±1000ppm~0.2个百分点X射线源:Mo靶的X射线光管风冷(无辐射)集成工业计算机,无需外接电脑探测器:固定式半导体封气正比计数器高压器:0~50Kv分析:多通道模拟软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算镀层测量:镀层厚度范围<30um温度:-11~46℃电压:100~127V或220~240V,50/60Hz最大功率:128W重量:33公斤尺寸:670400330mm操作系统:Windows2000