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CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状 各种尺寸的样品；并且测量点较小可达0.025 x 0.051毫米 CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板 样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用， 分别为： 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 程控样品台：XYZ轴自动控制。 **宽程控样品台：XYZ轴自动控制。 CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种 规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格 的样品台供用户选用，分别为： 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样 品较大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测**自动编程控制。 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳 的样品较大高度为270mm。全手动样品台：XYZ三轴手动 控制，可接纳的样品较大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳**大尺寸样品。 CMI 900/950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大 的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品 质量控制提供准确、**的分析.基于Windows2000 中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包， 实现了对CMI900/950主机的*自动化控制，分析 中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测 定较多5层、15 种元素。数据统计报告功能允许用 户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分 析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、 测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据 平均值、误差分析、较大值、较小值、数据变动范 围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、 CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。