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关 键 词:镀层膜厚仪
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发布时间:2011-10-28
X射线镀层膜厚仪不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空,便能在正常的环境下测量从元素Z=13铝到Z=92(铀),固定、浆状及液体的样本也可以测量,即使是极小不规则形状的测量面积也可快速、免接触的测量。X荧光无损膜层测厚仪只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定. X射线镀层膜厚仪的样品台选择: 采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: 一:X射线镀层膜厚仪手动样品台 1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 二:自动样品台 1 程控样品台:XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。 X射线镀层膜厚仪应用领域有: 1.测量大规模生产的零部件 2.测量微小区域上的薄镀层 3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层 4.全自动测量,如测量印刷线路板 期待您的来电,金东霖科技 吴小姐 手机: TEL:0755-29371651 FAX:29371653 公司网址: 地址:深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室