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倒置型 LWD200-4XI 金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
主要技术参数
规格
1.物镜：
类别 放大倍数 数值孔径
N．A 系统 工作距离
（mm）
消色差物镜 10X 0.25 干 7.32
半平场消色差物镜 40X 0.65 0.66
消色差物镜 100X 1.25 油 0.37
2.目镜
类别 放大倍数 视场直径（mm）
平场目镜 10X 18
12.5X 15
3.摄影目镜：（选购件）：1X，0.44X
4.观察方式： 4XI单筒目镜 4XB双筒目镜
5．仪器总放大率及物视场
物镜
目镜 10X 40X 100X
10X 100X
Ф1.8mm 400X
Ф0.45mm 1000X
Ф0.18mm
12.5X 125X
Ф1.5mm 500X
Ф0.38mm 1250X
Ф0.15mm
6.机械筒长：160mm
7.微动调焦：
调节范围：7mm
刻度格值：0.002mm
8.粗动调焦范围：7mm
4XI/4XB：机械工作台：200×180 移动范围: 78 ×52 mm
9.载物台
10.载物片孔径：Ф10, Ф20, Ф42 (mm)
11.照明灯泡: 6V20W溴钨灯
12.变压器:220伏/输出压可调(内装于底座中)
13.仪器重量: 7公斤14.仪器装箱总重量: 16公斤15.木箱体积: 390×280×51mm
