供应X射线膜厚测试仪

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关 键 词：膜厚仪

行 业：广电 广电测试设备 测试仪 

发布时间：2011-10-28

X射线膜厚测试仪是多用途的X射线荧光测量法的技术，适合快速及非破坏性测量物料成份和镀层厚度的质量。它能够应用于广泛的产品种类。镀层厚度和镀层成份的关系通常是非常复杂的，只要使用WIN FTM软件，所有物理上可以测量的镀层组合都能够解决。当设定测量程式（Def.MA)及自由种类选择时，X射线膜厚测试仪能提供非常大的弹性。它可以在一个多镀层系统内测量多至24种元素，这是非常独特的。简单的说：更多镀层！更多元素！更大灵敏度！

X射线膜厚测试仪可测元素范围：
氯(CL) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器

X射线膜厚测试仪综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.