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关 键 词：OP-201
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发布时间：2010-09-17
硅锭被切割成硅片后，硅片的表面是抛光的，硅片本身容易被掺杂。 硅片制造工艺中，会使硅片产生以下的缺陷：微裂, 破洞, 杂物, 污垢. 这些缺陷会影响后续电池片的效率，所以在进入电池片制造工艺前，应该被挑选出。 本公司提供太阳关能光伏专业测试设备.电池片硅片数片机，整体反射率, 制绒反射率，膜厚仪,减反膜测试，薄膜膜厚测量,稳态模拟器，脉冲模拟器, EL测试，QE量子效率, 探针轮廓仪（台阶仪）, 电池片分选机, 组件缺陷检测,硅片微裂测试,电池片缺陷检测等系列测试设备，标准8度角绒面积分式反射仪(D8)；SE400adv多角度激光椭偏仪
