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秦皇岛X射线仪器涂层测厚仪简介 所有的设备遵循ASTM B568, DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术,X射线仪器具有其独特的特点。 涂层测厚仪 典型的应用范围如下: 单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。 分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。 分析电镀溶液中的金属离子浓度。 如果您对涂层测厚仪感兴趣的话,可以联系我们。