供应SK2008金相显微测量分析系统

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发布时间：2007-11-16

SK2008金相显微测量分析系统
 


       
         2008金相显微测量分析系统包括数码金相显微镜及**图像测量分析软件.系统集成了传统目视与现代影像功能，内置高亮度可持续调节的同轴光.高达400X－4000X的电子放大倍率和40 X－400 X的光学放大倍率, ±300纳米测量精度，使成像较加清晰可见.由赛克**开发**图像测量分析软件,能够****的捕捉各种图像,具有图像测量、管理及处理等功能.产品适用于IC芯片、PCB覆铜板、液晶屏导电离子的检测和工矿、科研,教学等单位研究和观察等.尤其对于细小颗粒、粉末试样、大批金相和大面积硅片的检测,可得到**的图像效果. 本产品是经济普及型亚纳米级测量产品,比同类产品具有优越的性价比.

 

  性能
 


 

◆   内置连续可调光源

◆   4000X电子放大率,高质素成像

◆   配合机台使用卤素灯（视光栏和孔径光栏大小可调）

◆   内置式高清晰saike image card

◆   纵、横可移动平台

◆  采用松下原厂CCD摄像头

◆   外设*特的目镜

◆   适应明视场、暗视场

◆      SKD－CL2软件系统可进行各种图像测量和处理

◆   支持多种格式,可进行图像存储、编辑、打印、发送、格式化等