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镀层测厚仪型号 x荧光厚度测量仪 深圳天瑞仪器
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关 键 词:镀层测厚仪型号
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仪器仪表
分析仪器
X射线仪器
发布时间:2024-01-12
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
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