直读光谱仪结构 电火花直读光谱仪怎么维护
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行 业：仪器仪表 分析仪器 元素分析仪器
发布时间：2024-01-04
光谱起源于17世纪，1666年物理学家牛顿次进行了光的色散实验。他在暗室中引入一束太阳光，让它通过棱镜，在棱镜后面的自屏上，看到了红、橙、黄、绿、兰、靛、紫七种颜色的光分散在不同位置上——即形成一道彩虹。这种现象叫作光谱．这个实验就是光谱的起源，自牛顿以后，一直没有引起人们的注意。
经历了100多年的发展探索与研究，1859年克希霍夫和本生为了研究金属的光谱自己设计和制造了一种完善的分光装置，这个装置就是世界上台实用的光谱仪器，研究火焰、电火花中各种金属的谱线，从而建立了光谱分析的初步基础。直至1882年，罗兰发明了凹面光栅，即是把划痕直接刻在凹球面上。凹面光栅实际上是光学仪器成象系统元件的合为一体的元件，它解决了当时棱镜光谱仪所遇到的不可克服的困难。凹面光栅的问世不仅简化了光谱仪器的结构，而且还提高了它的性能。
1928年以后，由于光谱分析成了工业的分析方法，光谱仪器得到迅速的发展，一方面改善激发光源的稳定性，另一方面提高光谱仪器本身性能。
早的光源是火焰激发光谱；后来又发展应用简单的电弧和电火花为激发光源，在上世纪的三十、四十年代改进采用控制的电弧和电火花为激发光源，提高了光谱分析的稳定性。工业生产的发晨，光谱学的进步，促使光学仪器进一步得到改善，而后者又反作用于前者，促进了光谱学的发展和工业生产的发展。
六十年代光电直读光谱仪，随着计算机技术的发展开始迅速发展。由于计算机技术的发展，电子技术的发展，电子计算机的小型化及微处理机的出现和普及，成本降低等原因、于上世纪的七十年代光谱仪器几乎100％地采用计算机控制，这不仅提高了分析精度和速度，而且对分析结果的数据处理和分析过程实现自动化控制。
解放后，我国的光谱仪器工业从无到有，由小到大，得到飞跃的发展，且具有一定的规模，与技术竞争中求生存，社会商品竞赛中得到发展。
1958年开始试制光谱仪器，生产了我国台中型石英摄谱仪，大型摄谱仪，单色仪等。中科院光机所开始研究刻制光栅，59年上海光学仪器厂，63年北京光学仪器厂开始研究刻制光栅，63年研制光刻成功。1966—1968年北京光学仪器厂和上海光学仪器厂先后研制成功中型平面光栅摄谱仪和一米平面光栅摄谱仪及光电直读头。1971—1972年由北京第二光学仪器厂研究成功国内台WZG—200平面光栅光量计，结束了我国不能生产光电直读光谱仪的历史。
Labspark 750T 精密直读火花光谱仪技术参数
Labspark 750T 技术优势
激发能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料。
特的恒温式火花台设计，环状氩气流方式，保证连续激发状态下仪器的稳定性，避免使用水冷带来的不利影响。
安全防护设备阻止不安全激发。
铜基座火花台，火花台易于拆卸，便于清洁。
带有特配件，易于检测多种形状的分析对象（饼状、棒状、线状）。
一体式透镜隔离阀，可防止因日常维护导致的光室污染影响强度下降，透镜易于更换。
放电室设计特，保证放电在条件下进行。
激发电极为钨电极。
帕邢 - 龙格架发，高发光全息光栅。
光栅焦距 750mm，刻线为 2400 条 /mm，
谱线范围：120-800nm。
色散率：一级色散率：0.55nm/mm， 二级色散率：0.275nm/mm。
分辨率：优于 0.01nm。
整体出射狭缝调试方便、快捷、便于用户增加更改通道，节约成本。
光栅、光电倍增管等核心部件全部进口。
真空度由真空泵和真空控制设备控制。
铸铁光室，热膨胀系数低，保证真空度的要求。
采用纳克公司的金属原位分析仪的核心关键技术 -- 单次放电采集解析技术（Single Discharge Analysis，SDA）。
世界首创的多通道同步描迹提高仪器稳定性。
延时积分技术，国内空白、，不同的通道采用不同的积分起始时间。
内部恒温系统，不同的部位采用不同的恒温条件，大大减少了外部环境变化对仪器的影响（控制精度 ±0.1℃）
连续可调光源，对不同的材质可以匹配不同的光源实现的分析结果。
模块化的电路设计，维修方便快捷，为远程诊断做好了准备。
软件可调立高精度负高压模块，负高压精度＜ 0.05%。
负高压可由分析程序控制，调高分析程序的分析精度，扩展元素的分析范围。
实时各通道负高压、 光室温度、火花台温度、真空度等重要参数，确保仪器长时间稳定运行。
各光电倍增管负高压立 供电，消除相互干扰，运行更可靠。
根据分析需要，可程序调整，拓宽反分析范围。
包括不同基体不同曲线的计算，全中文分析软件，方便用户操作，第三元素干扰校正，提高分析准确度。
光谱仪采用了一个复杂而又敏感的光学系统。光谱仪的环境温度，湿度，机械振动，以及大气压的变化，都会使谱线产生微小的变化而造成谱线的偏移。气压和湿度变化会改变介质的折射率，从而使谱线发生偏移，湿度的提高不仅会使空气的折射率，而且会对光学零件产生腐蚀作用，降底了仪器透光率，湿度一般应控制在55% -60% 以下。温度对光栅的影响主要改变光栅常数，使角色散率发生变化，产生谱线漂移。这些变化会使光谱线不能完全对准相应的出射狭缝，从而影响分析结果。
在实际工作中，由于试样和标准样品的冶金过程和某些物理状态的差异，常常使工作曲线发生变化，通常标准样品多为锻造和轧制状态，而日常分析为浇铸状态。为了避免试样因冶金状态变化给分析结果带影响，常常应使用一个与分析试样冶金状态和物理状态都一样的控样，来控制分析结果，控样的元素含量应位于工作曲线含量范围内，并与分析试样的含量越接近越好。同时，控制样品的元素含量应当准确可靠，成份分布均匀，外观无气孔、砂眼、裂纹等物理缺陷。
