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关 键 词:半导体封测缺陷检测,半导体封装缺陷检测,机器视觉软件,自动化检测软件
行 业:仪器仪表 光学仪器 光学检测仪器
发布时间:2023-06-14
半导体缺陷检测系统由我司自主研发,该系统集本公司在机器视觉工业检测领域多年技术积累,同时结合时下最新的用户特点及实际需求而推出。产品具有集成度高,操作简便,设置灵活,稳定可靠等优点。本产品适用半导体、网络变压器等管脚类电子产品检测对象,规定了我司半导体系列产品的检测指标精度。其他技术要求均适用于我司半导体检测系列的全系产品。