半导体产品缺陷检测 半导体检测设备采用四相机多工位检测

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关 键 词：半导体视觉检测软件,机器视觉定位,机器视觉对位,机器视觉软件

行 业：仪器仪表 光学仪器 光学检测仪器 

发布时间：2023-06-14

半导体检测缺陷类型
      本系统采用四个相机，分为四个工位对半导体芯片进行检测，分别是：
      1、方向工位检测；
      2、镭射（印字）工位检测；
      3、3D工位检测；
      4、编带工位检测。