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光谱分析仪基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。光谱分析仪基体效应是个无法客观，其物理实质是激发(吸收)和散射造成特征X射线强度的变化，除待测元素外，基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的射线和待测元素特征X射线产生光电效应的几率比轻元素(在地质样品中一些常见的主要造岩元素)的几率大得多，也就是这些邻近元素对激发源发射的X射线和待测元素的特征X射线的吸收系数比轻元素大得多;轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征X射线康普顿散射几率比重元素大得多。移动光谱仪服务电话ICP-AES等离子体发射光谱仪是近三十年迅速发展的一种十分理想的痕量元素分析仪器.
光谱分析仪器入射光经光栅衍射后，相邻刻线产生的光程差，则可导出光栅方程，光栅方程将某波长的衍射角和入射角通过光栅常数d联系起来，为入射光波长，m为衍射级次，取等整数。式中的""号选取规则为：入射角和衍射角在光栅法线的同侧时取正号，在法线两侧时取负号。如果入射光为正入射，光栅方程变为。衍射角度随波长的变化关系，称为光栅的角色散特性，当入射角给定时，可以由光栅方程导出复色入射光进入狭缝S1后，经M2变成复色平行光照射到光栅G上，经光栅色散后，形成不同波长的平行光束并以不同的衍射角度出射，M2将照射到它上面的某一波长的光聚焦在出射狭缝S2上，再由S2后面的电光探测器记录该波长的光强度。光栅G安装在一个转台上，当光栅旋转时，就将不同波长的光信号依次聚焦到出射狭缝上，光电探测器记录不同光栅旋转角度（不同的角度**不同的波长）时的输出光信号强度，即记录了光谱。这种光谱仪通过输出狭缝选择特定的波长进行记录，称为光栅单色仪。
上海晗彬检测设备有限公司的ICP-AES法首先是一种发射光谱分析方法，可以多元素同时测定。发射光谱分析方法只要将待测原子处于激发状态，便可同时发射出各自特征谱线同时进行测定。ICP-AES仪器，不论是多道直读还是单道扫描仪器，均可以在同一试样溶液中同时测定大量元素（30～50个，甚至更多）。已有文献报导的分析元素可达78个[4]，即除He、Ne、Ar、Kr、Xe惰性气体外，自然界存在的所有元素，都已有用ICP-AES法测定的报告。当然实际应用上，并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法进行测定，仍有些元素用ICP-AES法测定，不如采用其它分析方法更为有效。尽管如此，ICP-AES法仍是元素分析为有效的方法。便携式光谱仪便携式光谱仪广泛应用于冶金、铸造、机械、金属加工、汽车制造、有色、航空航天、兵器等。
使用光谱进行定性分析的仪器叫做光谱仪。使用分光棱镜或者光栅产生光谱，并利用其中特定的某个或某段光谱线强度来进行定量分析的仪器叫做分光光度计。这两种叫法基本没差别，光谱仪都是要有分光组件的，比如ICP-AES,AAS。但是历史上因为中国上海精密仪器厂首先将紫外可见分光光度计进行了国产化，当时的技术难点也就在分光技术上。老一代的分析员都是把紫外可见分光光度计直接称作分光光度计，所以分光光度计也特指紫外可见分光光度计。而荧光光谱仪、核磁共振光谱仪、扫描隧道光谱仪其实也是要有分光组件的，现在都是用光谱仪这个名词来统称了，因此光谱仪的概念比分光光度计范围要大一些，新一些。而分光光度计更集中在定量分析方面的称呼，有人把AES、AAS也称作分光光度计因为它们在一般性的分析工作中也主要是用来定量的，这就造成了“分光光度计”和“光谱仪”两种叫法的混乱。 光电直读光谱仪开始逐步应用于中国铸造行业。移动光谱仪服务电话
采用了原子发射光谱学的分析原理，通过光电倍增管可以测量出每个元素的比较好谱段。ICP光谱仪服务电话
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