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关 键 词：霍尼韦尔05264801,测厚仪备件05258600,测厚仪备件05257900
发布时间：2023-04-05
X荧光测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒；即可分析出各金属镀层的厚度，分析测量动态范围宽，可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
AF系列室外温度传感器
量程:-40…70℃
:NTC 20K,Pt1000,
工作电压:无源
防护等级:IP54
安装方式:支架固定
VF系列浸入温度传感器
量程:-40…℃
插深:50mm,mm,300mm
:NTC 10K,NTC 20K,Pt1000
工作电压:无源
防护等级:IP54
安装方式:套筒
霍尼韦尔传感器
1、温度传感器
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