镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。
镀层测厚仪特点
实用特点一：0.5秒就可以快速无损测量出涂层以及镀层的厚度。并且自动识别测量的基材。
实用特点二：市面上的镀层测厚仪，在使用时都是需要校准的，但林上的镀层测厚仪LS223，无需校准，只需凋零，仪器调零完毕后即可开始测量。
实用特点三：仪器只有一个按键，省去繁琐操作，测量更加的简单。
实用特点四：测头采用真正的红宝石，非常的耐磨和耐腐蚀，可以保证镀层测厚仪LS223长久有效的使用。
实用特点五：探头采用了的数字探头，这种探头不容易收到干扰，而且还提供优良的测试精度，即使温度变化也不受影响。
实用特点六：有F3N3探头和F5N3探头可选择F5N3探头的量程范围是5mm，F3N3探头的量程范围是3mm。铁铝两用，特别适用于大厚度的涂层检测。
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理快速准确
手动开关样品腔，操作方便
三重保护模式
整体钢架结构、外型时尚
FP软件，无标准样品时亦可测量
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差，可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法：
1、将探头垂直按压在调零板中间的位置，保持探头的稳定。
2、按下按键，屏幕会提示压紧探头，再根据提示把探头提起15cm以上。
3、屏幕显示0.0则调零完毕。
4、完成后，可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内，则说明仪器可以正常使用了。
我们公司充分利用多年积累的技术知识，坚持以客户为导向，不断的创新，为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。
