时间：2009-09-22 12:00:00 点击：105
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪 产品特色∶ 1. **一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。 2. **大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品 质。 4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种 5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承较长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div> 6. 具有表面相对等距自动调整系统 7. 采用自然光，LED白光，无色差 8. 采用较新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器 9. 具有防撞安全装置 10. 具有操作时辐射安全装置 11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。 联系电话：１３７０１６００７６７