2.5次元测量厂家电话 影像测量测试仪 影像测量仪批发
价格：0.00起
光学影像特性:固定光学镜头，原厂的套筒和可替换的前置镜头选件
平台马达驱动系统:高精度的XY马达，Z轴线性驱动及3轴摇杆控制平台的移动
光源:LED同轴表面光，LED底光，锥形VectorLight™可编程5环8扇LED环形光|选配：6环8扇环形光
其余选件:TP20探针及探针更换支架，TTL同轴激光，转台，I/O功能
软件选项:Measure-X测量软件®, MeasureFit二维比对软件®, SmartReport数据输出软件®, CAD interface, SmartFeature 软件
标准配置
■测量范围(XYZ)：450x 450x 200 mm
■测量系统尺寸(LWH)：138 x 102 x 168 cm，1039kg
■XYZ光栅尺分辨率：0.1µm
■马达驱动：直流伺服马达
■平台速度：Z轴100mm/秒;X，Y轴 250mm/秒
■工作台：带有夹具孔的加固平台，可拆卸平板玻璃,，75kg承载力
■变焦镜：†的5:1 AccuCentric® 马达驱动、自动校准变焦镜, 校准位置达10个
■前置透镜：2.0x，2.5x，5.0x，10.0x
■延伸管：1.0x
■照明：平台下LED背光(绿光，已校准), 同轴LED表面光(白光)，††的SmartRing™LED环光(白光)
■摄像机：1/2″ 高分辨率彩色CCD，768x 494象素阵列
■影像处理：10:1次象素分辨率，256灰色级
■电力要求：115/230vac，50/60Hz，1Ф , 900W
■额定温度：18-22℃ + 1℃/小时,30-80%湿度(无冷凝水),振动<0.001克,低于15HZ
■操作环镜：15-30℃
■操作系统：Microsoft® WindowsTM 7
■测量软件：OGP MeasureMind®3D多元传感测量软件
■保修期：1年
标准配置
ZIP LITE 250 影像测量仪 选项
■测量范围(XYZ)：250 x 150 x 150 mm
■测量系统尺寸(长/宽/高)：55 x 56 x 85 cm, 113 kg ■X轴加长到300 mm
■XYZ光栅尺分辨率：0.5 μm
■马达驱动：X，Y轴微步进马达，Z轴DC伺服马达;3键控制手柄(X, Y, Z, zoom)
■工作台：硬膜层且阳氧化, 拆卸式平板玻璃, 14kg承载力
■变焦镜： †的5:1 AccuCentric® 自动校准变焦镜, 10个位置
■前透镜：1.0x
■透镜接管：1.0x
■摄像机：高分辨率彩色CCD摄像机, 象素阵列：768 x 494
■照明：LED轮廓灯(平行绿光), LED同轴(TTL) 表面光(白光), ††的8扇区LED智慧环光(白光), Vu-Light斜照射灯
■影像处理：10:1次象素分辨率, 256灰色级
■电源要求：115/230 vac, + 5%, 50/60Hz, 1ф, 300W
■环境：18-22℃, 30-80% 相对湿度(无冷凝水), 振动<0.001g 低干15Hz
■运行环境, 安全运行：15-30℃
■测量软件：OGP MeasureMind® 3D MultiSensor
■操作系统：Mircrosoft® WindowsTM
■保修期：1年
标准配置影像测量仪 Smartscope Flash CNC 300
■测量范围(XYZ)：300x 300x 250 mm
■测量系统尺寸(LWH)：80 x 85 x 80 cm，160kg
■木箱包装尺寸(LWH)：150 x 112 x 115 cm，192kg
■XYZ光栅尺分辨率：0.5µm
■马达驱动：直流伺服马达驱动，四轴操纵杆控制((X, Y, Z, 变焦)
■工作台： 平台带有夹具孔, 镀硬膜层且阳氧化,，可拆卸平板玻璃,，30kg承载力
■机械设计：OGP所有的“升降桥”结构，在紧凑的设备尺寸中实现大行程XYZ测量
■变焦镜：的12:1 AccuCentric® 自动校准变焦镜, 校准位置可高达25个
■摄像机：高分辨率彩色CCD，768x 494象素阵列
■照明：OGP所有，与数字光圈相匹配的LED背光(绿光), LED同轴表面光(白光)，的8扇区8环SmartRing™LED环光(白光)
■影像处理：10:1次象素分辨率，256灰色级
■电力要求：115/230vac，50/60Hz，1Ф , 600W
■额定温度：18-22℃ + 1℃/小时,30-80%湿度(无冷凝水),振动<0.001克,低于15HZ
■操作环镜：15-30℃
■测量软件 ： OGP Measure-X®
■保修期：1年
我们为客户提供的仪器进口贸易服务，同时可以根据客户的设备应用场景、生产和研发规划，为客户的仪器选型提供的咨询。似空科学的技术团队也可以为客户提供激光加工、电子控制、系统软件或者特定失效分析仪器的定制开发。
