三元电池分析仪厂家 便携式x射线荧光测试仪
价格：158000.00起
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行 业：仪器仪表 光学仪器 光谱仪
发布时间：2022-09-19
手持X射线荧光光谱仪按照不同的应用领域可分为：有害元素分析仪，合分析仪、土壤分析仪、贵金属分析仪和矿石分析仪等一系列型，其中手持式能量色散矿石分析仪已广泛应用于各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析及考古研究中。检测样品包括从硫至铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆等，形态为固体、液体、粉末等。
手持式光谱仪的应用非常广泛，涉及：电力、石化、考古、金属加工、压力容器、废旧物资回收、航空航天、地质勘探、矿山测绘、开采、矿石分选、矿产贸易、金属冶炼、环境监测、土壤监测、玩具、服装、鞋帽、电子产品等众多领域。便宜、的手持式拉曼光谱仪正在迅速成为原料药采购质量控制的有力工具。拉曼光谱仪是未知化合物的有力工具，例如检测高纯度化学品、成分验证和高分子材料的表征。拉曼光谱仪器大受欢迎主要是由于现代仪器所配备的智能决策软件和谱图库，使得它成为理想的分子指纹图谱分析技术。不同于传统的分子光谱技术，拉曼光谱仪可用于生产环境或现场应用，因为它能产生尖锐、特异的谱峰，几乎不需要样品前处理或直接与样品接触。此外，它还具有特的能力，可以通过透明的包装材料，如玻璃或塑料，直接测试样品，并对光谱信息没有任何干扰。手持式光谱仪正在成为原料药采购中质量控制的有力分析工具。其被广泛接受的原因是，它用于仓库化学品的识别，比传统的实验室分析技术更具成本效益。
合金分析仪技术性能：
1. 真正实现在现场进行无损,,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。 2. 只需将合金分析仪直接接触待测合金表面，无须等待和花费时间即可现场确定合金等级。 3. 被检测的样品的对象可以是合金块、合金片、合金线、合金渣、合金粉。 4. 不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认。 5. 手式可延伸的探头设计能对管道内部、焊缝,等位置进行检测。 6. 可检测温度高达450℃的高温材料。 7. 可现场在库中添加,编辑,合号。 8. **快的分析速度,仅需2秒钟可识别合金元素。 9. 用户化windowsCE6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成，用户化windows CE仅保留有基本的windows与Delta系统有关的性能，使程序更具灵活性。 10. *借助电脑，可在现场随意，查看，放大相关元素的光谱图。 11. 防尘,防雾,防水：一体机设计，软胶与塑胶部件凸槽凹槽构造设计，使仪器具有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。 12 更高的检测精度，多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。 13 **大的图标显示，菜单式驱动，微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。 14. 电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非授权人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时
合金材料分析 目前在合金材料检测领域，它主要用于、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定，是伴随世界经济崛起的工业和制造领域必不可少的成份鉴定工具。 重金属检测 除了传统的合金材料检测，贵金属，RoHs合规筛查，矿石分析，手持式XRF仪器同样在地质勘探和环境评估中发挥着重要的作用，通过分析土壤中的重金属元素，可以知道整个区域的矿产分布和污染分布。 其他领域 XRF技术还可以用于一些新的领域，比如风电和汽车领域，通过对油品中金属元素含量进行检测，可以间接反映轴承的磨损情况。还有许多新的XRF应用领域正在被开发出来，使得XRF技术在各个行业领域得到了广泛的应用。比如工厂的生产制造环节的焊接质量控制，也会用到XRF合金分析仪。
手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不完全相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
