fischer测厚仪说明书
价格:198000.00起
苏州实谱仪器有限公司
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行 业:仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间:2022-08-24
x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
随着科技的发展,越来越多的行业开始采用镀金表面处理,用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强,导电性好,易于焊接,耐高温,并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金),有良好的抗变色能力,同时金合金镀层有多种色调,在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好,易抛光,故常用作装饰性镀层,如镀饰、钟表零件、艺术品等;也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀,但由于金的价格昂贵,应用受到一定限制。
技术难点:
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格,然而由于镀层很薄,能量弱,稳定性差,想要良好的管控成本及产品质量,就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控,实现检测同一个点的薄金厚度,差稳定在1个纳米。
能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪!
此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
产品优势:
微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm
的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也测量
自动、智能、在线检测
自动:可编程自动位移平台,无人值守、自动检测样品;一次编程便可实现成百上千个样品点的检测
智能:实现自动AI影像智能寻点,编程档案自动匹配测试位置,在面对大批同类型样品检测时,具备明显的优势
在线:根据客户要求可个性化定制产线在线式检测,为工业4.0提供在线检测整体解决方案,提高检测效率,实现全自动智能化工厂
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
企业精神:诚信,敬业,团结,共赢。
管理理念:沟通共识,人和,包容创新。
经营理念:以人为本,以诚取胜,合作共赢。
社会责任:饮水思源,回馈社会。