x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况
技术参数：
1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）
2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
3. 厚度检出限：0.005μm
4. 成分检出限：1ppm
5. 小测量直径0.05mm（小测量面积0.002mm²）
6. 对焦距离：0-90mm
相比于其他高科技领域，测试仪器行业具有自己特的行业生态，非常依靠企业的技术积累和优势。整体来看，在通用电子测试测量仪器领域，国外优势企业技术优势明显，产品性能。王教授认为，国产仪器厂家和国外优势的在产品上不管是性能指标，还是市场接受度上仍旧有较大的差距。在全球通用电子测量仪器市场里，头部企业有是德科技、罗德&施瓦茨、泰克、力科等，多为老牌企业。这些企业基本都是起源于20世纪上半叶，拥有近的历史，经过长期的技术积淀，在产品上优势尤其明显。而中国的通用电子测试测量仪器行业不仅发展上晚于等企业，在、基础、创新、可靠性和市场能力等等都存在的差距。电子仪器行业产业的特点是规模相对消费电子行业较小，技术门槛却很高，需长期投入和积淀，目前，通用电子测试测量仪器产品的核心关键技术被少数美欧头部企业占，形成不易动摇的垄断局面。
