苏州实谱仪器有限公司
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x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。
仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
可能很多人对通用电子测试仪器还不太了解，如果按照产品类型划分，通用电子测试测量仪器并没有一个统一的或标准的分类方法，常见的是采用功能形态和频段相结合的划分方法，如仅从功能形态上看，通用电子仪器常见的几类仪器包含：信号分析类仪器（数字示波器、频谱分析仪等），信号产生类仪器（如任意波形发生器、信号源等），电路参数测试类（如矢量网络分析仪，数字多用表等），以及电源与负载等。以常用的数字示波器为例，它是属于信号分析类仪器的一种，可以用来观测、分析和记录各种电信号的变化。通俗来说，数字示波器可以将人肉眼看不见的电信号转换成可视化波形图像，便于人们更直观地去研究各种电现象的变化，并且能实现电压、电流、频率、相位、幅度等基本参数的测量，因此它在通信及信息技术、半导体、汽车制造、电子、物联网、航天航空与*、教育科研以及消费类电子等行业具有广泛的应用。
