苏州实谱仪器有限公司
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x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。
的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
XRF对贵金属检测的特优势：
标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品*前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm级度，可靠的检测数据；
无损：测试前后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属和杂质元素含量；
简易：操作简易，*测试人员，*严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。
因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其检测。
XAU系列X荧光贵金属检测仪是*、生产的一款，用于检测贵金属的仪器，本系列仪器采用高分辨率探测器，可准确无误的的分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合国际标准。
仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
苏州实谱信息科技有限公司是一家立志于研发和制造国际分析仪器和打造强国的。拥有的研发团队，开创了全新一代EFP核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环移动控制及AI影像识别。为微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测提供稳定，国际水准的无损自动检测解决方案。公司现有高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体**X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于新能源、半导体、精密电子、环保rohs、地质地矿、电子元器件、贵金属行业、五金卫浴、5G通讯、电镀产业、航空航天等行业领域。
